2026年3月15–18日に東京科学大学大岡山キャンパスにて開催された2026年 第73回応用物理学会春季学術講演会に参加し、「変調X線励起によるシンチレーション減衰時定数評価に向けた周波数領域測定手法の数値検討」のタイトルでポスター発表を行いました。
研究業績 / Achievementsの国内学会発表・ポスター発表に下記を追記しました。
- 佐藤大地, “変調X線励起によるシンチレーション減衰時定数評価に向けた 周波数領域測定手法の数値検討,” 2026年 第73回応用物理学会春季学術講演会, 2026, 東京科学大学.
本発表では、フォトンカウンティング検出器を搭載した次世代医療用X線CT用途のシンチレーション材料探索において重要な指標であるシンチレーション減衰時定数(蛍光寿命)を高S/N比かつ広ダイナミックレンジで迅速に測定可能な評価基盤の構築を目的として、周波数領域測定による蛍光寿命同定精度に関する数値計算結果について報告し、実現可能な最大変調周波数と測定可能な蛍光寿命との関係および本手法の適用範囲と今後の展望について議論しました。
