2026年6月28–7月2日にベルギー・ゲント大学にて開催された27th International Workshop on Radiation Imaging Detectors（iWoRiD2026）に参加し、「Numerical Investigation of a Frequency-Domain Measurement Method for Evaluating Scintillation Decay Time Constants under Modulated X-ray Excitation」のタイトルでポスター発表を行いました。
研究業績 / Achievementsの国際学会発表・ポスター発表に下記を追記しました。
- D. Sato, “Numerical Investigation of a Frequency-Domain Measurement Method for Evaluating Scintillation Decay Time Constants under Modulated X-ray Excitation,” 27th International Workshop on Radiation Imaging Detectors (iWoRiD2026), 2026, Gent, Belgium.
本発表では、フォトンカウンティング検出器を搭載した次世代医療用X線CT用途のシンチレーション材料探索において重要な指標である「シンチレーション減衰時定数（蛍光寿命）」を高S/N比かつ広ダイナミックレンジで迅速に測定可能な評価基盤の構築を目的として、周波数領域測定による蛍光寿命同定精度に関する数値計算結果について報告し、SiPMに代表される光半導体素子の応答を考慮した場合の実現可能な最大変調周波数と測定可能な蛍光寿命との関係および本手法の適用範囲と今後の展望について議論しました。
